Caracterización superficial de diversos tipos de zeolita, por medio de un microscopio electrónico de barrido

Resumen

Hoy en día los microscopios electrónicos han tenido un gran auge en cuanto a aplicaciones en la ciencia moderna ya que utiliza una fuente de electrones y lentes electromagnéticas, contando con una resolución nítida entre dos objetos o detalles. El Microscopio Electrónico de Barrido (MEB) está equipado con diversos detectores, entre los que se pueden mencionar: el detector de electrones secundarios, para obtener imágenes de alta resolución, un detector de electrones retrodispersados, que permite la obtención de imágenes de composición y topografía de la superficie y un detector de energía dispersiva, que permite colectar los Rayos X generados por la muestra y realizar diversos análisis semicuantitativos y de distribución de elementos en superficies. La utilización y preparación de las muestras es relativamente sencilla, las principales características son: una muestra sólida y conductora. Caso contrario, la muestra es recubierta con una capa de carbón o una capa delgada de un metal como el oro para darle propiedades conductoras a la muestra a bajo vacío. Las aplicaciones del equipo son muy variadas, en este trabajo, un material no conductor como la zeolita natural y compositos de TiO2-zeolita natural fueron sintetizados y caracterizados en un MEB de emisión de campo y de alta resolución. En ambos materiales, el análisis de sus principales propiedades morfológicas es particularmente importante ya que poseen diversos sistemas de canal que pueden ser afectadas por procesos de síntesis y ser identificados fácilmente bajo esta técnica de caracterización.